光电探测分析测试系统光电探测器参数自动测试系统为我司专门为PD类光电探测器芯片开发的一套完整的集IV、CV、光响应度等测试应用的交钥匙在片系统，主要用于解决客户PD类芯片的研发和自动化筛选测试，系统经验源于易捷测试在光电模块、光电器件To封装以及探针台领域多年的测试经验。

光电测试系统伴随400G、100G通信的到来，通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件从特征性能都需要极大提高。从芯片到封装好的器件特征必须通过相应的参数来衡量相应的O/E和E/O参数。如3dB带宽、S参数、光波长响应度，接收灵敏度等。该系统就是集成矢网、光调制器、光校准件、探针台，可对O/E，E/O芯片、封装好的器件特征参数进行测试。

硅光子晶圆测试系统

G047664光电转换指示及规格书

高频自动探针台晶圆测试系统

X射线辐照及抗辐射测试系统

晶圆级射频在片测试系统

多功能MMIC自动测试系统基于 Keysight PNA-X 、扩频模块、半自动探针台、高频探针、自主开发的高精度电动探针座及配套控制软件的一套毫米波多功能MMIC自动测试系统解决方案

矢量非线性网络综合测试系统

毫米波噪声参数测试系统

2018噪声建模和噪声测量研讨会

材料电磁参数性能测试系统用于 TR组件的集成测试，可以实现复杂的 TR 组件参数一次连接自动测试；系统具有频率高、频带宽、精度好、速度快等特点，适用于军工、科研、生产线等机构的 TR 组件自动化测试。

UXG捷变信号源的通信对抗验证系统