深圳市易捷测试技术有限公司，品牌：GBITEST。 致力于为用户提供精密的半导体晶圆级在片测试探针台系统和射频微波器件测量系统，微组装封装检测系统以及材料测试等系统集成方案。特别是我们提供的探针台在片系统，已被全球客户广泛地应用于I-V／C-V测试，脉冲I-V测试，RF/mmW测试，高压、大电流测试，MEMS、芯片光耦合，光电器件测量、射频校准、晶圆级失效分析、霍尔测试、CP测试等解决方案中。