光电探测分析测试系统光电探测器参数自动测试系统为我司专门为PD类光电探测器芯片开发的一套完整的集IV、CV、光响应度等测试应用的交钥匙在片系统，主要用于解决客户PD类芯片的研发和自动化筛选测试，系统经验源于易捷测试在光电模块、光电器件To封装以及探针台领域多年的测试经验。

光电测试系统伴随400G、100G通信的到来，通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件从特征性能都需要极大提高。从芯片到封装好的器件特征必须通过相应的参数来衡量相应的O/E和E/O参数。如3dB带宽、S参数、光波长响应度，接收灵敏度等。该系统就是集成矢网、光调制器、光校准件、探针台，可对O/E，E/O芯片、封装好的器件特征参数进行测试。

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材料电磁参数性能测试系统用于 TR组件的集成测试，可以实现复杂的 TR 组件参数一次连接自动测试；系统具有频率高、频带宽、精度好、速度快等特点，适用于军工、科研、生产线等机构的 TR 组件自动化测试。