光电探测分析测试系统光电探测器参数自动测试系统为我司专门为PD类光电探测器芯片开发的一套完整的集IV、CV、光响应度等测试应用的交钥匙在片系统，主要用于解决客户PD类芯片的研发和自动化筛选测试，系统经验源于易捷测试在光电模块、光电器件To封装以及探针台领域多年的测试经验。

光电测试系统伴随400G、100G通信的到来，通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件从特征性能都需要极大提高。从芯片到封装好的器件特征必须通过相应的参数来衡量相应的O/E和E/O参数。如3dB带宽、S参数、光波长响应度，接收灵敏度等。该系统就是集成矢网、光调制器、光校准件、探针台，可对O/E，E/O芯片、封装好的器件特征参数进行测试。

硅光子晶圆测试系统

G047664光电转换指示及规格书

高频自动探针台晶圆测试系统

X射线辐照及抗辐射测试系统

晶圆级射频在片测试系统

多功能MMIC自动测试系统基于 Keysight PNA-X 、扩频模块、半自动探针台、高频探针、自主开发的高精度电动探针座及配套控制软件的一套毫米波多功能MMIC自动测试系统解决方案

用网络分析仪建CAL KIT微波集成电路工作在微波和毫米波波段，由微波无源有源元件、传输线和互连线集成在一个基片上。随着微波集成电路技术和制作工艺的发展，集成电路的集成度更高，基片面积更小。作为通用微波测量仪器的矢量网络分析仪，利用其对微波集成电路进行在片测试，即直接在晶圆上进行微波集成电路S参数测试，难度也更高

矢量非线性网络综合测试系统

毫米波噪声参数测试系统

2018噪声建模和噪声测量研讨会

材料电磁参数性能测试系统用于 TR组件的集成测试，可以实现复杂的 TR 组件参数一次连接自动测试；系统具有频率高、频带宽、精度好、速度快等特点，适用于军工、科研、生产线等机构的 TR 组件自动化测试。

PCB板材料测试解决方案传统上，商业用途的PCB材料的介电常数测试在相对低的频率上进行测试，例如1MHz和1GHz。目前为了适应高数据转换速率的趋势（对于移动手持设备，电脑，桌面设备），PCB材料的测试频率正在增加。例如，无线通讯设备的PCB材料在1GHz-10GHz的频率范围内测试。

非破坏性检测-超声检测IGBT模块很长一段时间，模块的制造商一直没有找到好的非破坏性方法来检测可能导致这些故障的结构缺陷的方法。为了解决这个问题，使IGBT模块容易地检查内部结构缺陷，Sonoscan公司最近开发并开始发布一款C-SAM®声学显微成像设备。