中文  /  English
新闻资讯
公司新闻
行业动态
媒体报道

射频探针的问题为什么那么多?

查看详细新闻
不懂射频探针?扫这二维码,全都是干货。加易小捷企业微信号:18127076420

易捷测试上微波杂志了!

查看详细新闻
5月12日EDICON网上会议成功举办,易捷测试直播了射频终端前端芯片在片全自动测试方案演讲回看现发表在《微波杂志》5/6月电子期刊上随着5G移动终端市场越来越成熟以及Wi-Fi、UWB、GPS、蓝牙等终端产品的井喷式增长,...

美国立法加强美国的半导体供应链

查看详细新闻
拜登总统 2 月 24 日关于美国供应链的行政命令发起的商务部报告呼吁加强对国内半导体制造和研究的有针对性的激励措施,以加强美国的芯片供应链。

芯片需要做哪些测试呢?

查看详细新闻
芯片测试简介

晶圆在片测试探针质量的重要性

查看详细新闻
关于晶圆测试的管理每次探针扎针时都需要在良好的电接触与防止损坏晶圆和探针卡之间取得平衡。扎错了,它可能会损坏晶圆和定制的探针卡,并导致不良的良率以及现场故障。要达到这种平衡,就需要良好的晶圆探测工艺流...

免费参加电子设计创新大会!

查看详细新闻
17场演讲将涵盖5G/6G/物联网/卫星/雷达/汽车等议题。易捷测试将于5月12日下午2:40-3:10pm 在线EDICON 网络演讲:射频终端前端芯片在片全自动测试方案
Copyright © 深圳市易捷测试技术有限公司 备案号:粤ICP备15112613号   技术支持:山东云科网络