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晶圆级射频在片测试系统

射频在片测试解决方案


毫米波以及太赫兹在光线穿透领域具有大范围非常规频段,高带宽,基于短波长的高分辨图像技术等特征得到广泛的技术使用。这些RF 的应用已经渗透到各个领域。但是要想获得高精度,高重复性和稳定性的晶圆级RF 测试方案仍然具有很大的挑战。易捷测试的晶圆级RF在片测试解决方案,使用Keysight ENA网络分析仪以及业界领先的高性价比MPI射频探针台配合易捷测试系统软件进行操作。可以自动校准、根据待测器件特性进行参数提取。


众所周知,RF 最重要的两个参数是相位和幅度,毫米波和太赫兹判断的波长非常小,它们尺度甚至可以达到仪表和连接接头尺寸。如此高的频率以至于每秒有上百亿个波形通过器件电极和探针的表面,任意一些轻微的变化都可能导致相位和幅度发生很大的改变,影响测试精度。另外,为了满足不同的测试需求,每一种RF 线缆和接头以及探针都有他们独特的电学参数规格(如最大频率,阻抗,电介质常数,插损,波速,延时等)和机械参数(如外导体直径,质量,最小弯曲率,操作温度范围等)


以上所有,都是系统搭建需要考虑的重要因素,为此工程师们不得不花费大量的时间和精力去掌握测试仪表和探针台的软件和硬件,线缆知识甚至基本的电磁场理论。工程师在处理多个供应商以建立满足他们需求的解决方案时,工程师将会能会面临挑战。

易捷测试系统1.png

特征与优势

 晶圆级 RF 射频测试解决方案。是易捷测试(GBITEST)成熟的系统集成方案,不仅能加速产品研发,并且能在最短的时间内让客户进行自动化测试,缩短产品上市和收益周期,节约客户成本,增加收益。

  • 在片RF 器件集成方案的表征频率高达1.1THz

  • 专业的隔震方案,确保测试过程中稳定的探针接触,从而搭建出高精度测试系统

  • 1um 的接触\分离精度动确保极高的测试重复精度

  • 对于不同的应用需求,提供多种探针进行选型,比如Infinite 探针,|Z|探针,ACP 探针和 FPC

  • 模块化设计的控制软件确保高效的测试和定制化服务

  • 可实现多种射频项目自动测试:S 参数测量、偏压下的S 参数测量、增益压缩测量、噪声系数测量、交调失真测量、三阶交调测量等



  • 集成世界最领先的测试仪和探针台, 控制及服务更加专业

  • 人性化设计,友好界面,操作简单

  • 缩短产品开发到量产时间,保护您的投资

  • 轻松实现复杂应用,快速完成测试

  • 模块化平台设计,容易升级。并可根据客户需求量身定制

  • 支持所有可编程设备轻松接入,可集成仪表覆盖面广


应用领域



5G人体识别
自主汽车
汽车雷达的传感器
太赫兹技术应用
射频天文学
医药与高分辨安全成像
通信
材料研究以及半导体建模等

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