中文  /  English
解决方案
晶圆硅光测试
光电探测分析测试
光电测试
光电探测分析测试系统

光电探测器参数自动测试系统解决方案

 系统方案简介

 光电探测器参数自动测试系统为我司专门为PD类光电探测器芯片开发的一套完整的集IV、CV、光响应度等测试应用的交钥匙在片系统,主要用于解决客户PD类芯片的研发和自动化筛选测试,系统经验源于易捷测试在光电模块、光电器件To封装以及探针台领域多年的测试经验。





 易捷测试推出业界领先的光电探测分析测试系统解决方案,该系统包含半自动探针台、半导体参数分析仪、LCR测试仪表、激光光源、自动控制测试软件,并配套打点功能,支持晶圆从2英寸到8英寸整片测试,并支持碎片的测试,含自动XY修正和目前业内最先进的Auto-Z技术。









特征与优势

快速、高效、稳定的光电探测器参数自动测试系统


易捷测试系统技术解决方案:

 

主要由高精度半自动光电探针台、测试仪表及自动控制软件组成,自动光控制测试光电探测器参数并进行判别比较,具有管理、存储、处理及报表功能。




应用领域


PD类光电探测芯片在片测试
                  光电模块
光电器件封装
光通信光电芯片测试光有源器件


了解更多
Copyright © 深圳市易捷测试技术有限公司 版权所有  技术支持:山东云科网络