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探针台自动在片测试系统软件

 
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易捷测试 WAVE 自动在片测试系统软件:

• 组件化管理技术。

• 可完成芯片高效率测试丰富的DC/RF项目应用经验。

• 兼容芯片测试中常规测试仪器仪表成熟稳定的探针台控制。

• 兼容Cascade\MPI\TSK探针台集成电动探针座控制。

• 提供不等间距DIE的多功能MMIC芯片测试解决方案。


灵活的扩展功能提供定制服务开发:

• 100万级die显示及处理,实时刷新显示,最低内存消耗,从算法上解决DIE个数对系统性能的影响。

• MAP向导式编辑,MAP文本导入,不等间距DIE设置, MAP多种格式输出,使客户轻松完成MAP编辑工作软件支持256种分bin设置。

• 客户自定义分Bin条件 。

• 软件支持AutoXY、AutoZ自动校准及修正



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易捷测试在片测试软件在MPI探针台系统应用

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