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2018噪声测试和噪声建模技术研讨会回顾
信息来源:2018-12-19


     

2018年12月6日,《2018噪声测试和噪声建模技术研讨会》如期在南京举行。在南易捷测试总经理主持了本次研讨会议,主讲嘉宾有来自美国Maury的Gary Simpson, Keysight的DiLiu和Modelithics的 Jiang Liu。参与讨论的还有Maury公司的朱丹和余庭 。


会前准备:

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会议回顾

   这是一场主要针对噪声系数、噪声参数校准和噪声建模,验证,噪声测量及噪声测试系统等内容展开的研讨会,我们邀请了5位主讲嘉宾,分别就以上主题分享了相关的技术核心要点,以及他们取得的实践成果。会议期间,参会者提到了很多问题,并且积极地与嘉宾进行了现场讨论,会议气氛很活跃。

    好的低噪声电路设计从精准的噪声参数噪声模型开始。开场,主持人先后介绍了本次研讨会的主讲嘉宾。

   Gary Simpson是器件表征系统的先驱,1987年,他开发了世界上首个应用于负载牵引测量系统的自动阻抗调谐器。上半场Gary Simpson 以“什么是噪声,噪声参数等”最基础的理论作为演讲的开场,让我们更深入和扎实地对“噪声”有了全面和准确的理解。


Gary Simpson 讲解噪声及噪声参数


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     中场,演讲进入核心内容“噪声参数的验证及如何有信心的测试噪声”和“影响噪声参数测试的关键因素”,在这个环节,Maury公司的余庭用中文重点翻译和补充了Gary的演讲。在问答时间,Gary现场收到了很多参会者的提问,他很有耐心地对问题一一做了解答。因为机会难得,易捷测试提前准备了“互动”奖品,以鼓励现场参会者能积极与嘉宾互动,并为每一位”提问者“ 赠送了互动奖品。


                                                               噪声测试研讨会2


      很多人对噪声建模和验证相对比较陌生,建模对噪声测试有什么帮助?Modelithics公司(世界最好的微波仿真模型)是家怎样的公司?在研讨会的下半场,美国Modelithics公司RF建模资深工程师和项目负责人JIANG LIU主要做了三大部分的演讲。

1,介绍MODELITHICS公司和在射频微波市场的地位。

2,关于怎样验证不同噪声测量系统。并用Legary ATN NP5 对比Maury 's ultra_fast噪声测量系统的结果。

3,噪声源ENR在噪声系数测量中的重要性,怎么样用无源系统对噪声进行验证。


(刘江在演讲中)


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      工程师在噪声测试过程中常遇到了不少测量精准度的问题,在演讲的问答环节,参会人员问到了刘江一些测试技术细节方面的问题,包括校准,噪声源对比,其中也提到了ENR,KEYSIGHT刘迪也对这个问题做了相关补充回答。

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   KEYSIGH刘迪非常了解在场技术人员关心的问题,是德科技噪声系数解决方案组合---仪器、应用软年和附件已是一整套非常成熟的测量方法。刘迪的演讲主题《Comparison of noise figure measurement between Y-Factor Method and cold-source method》。考虑到每个人对噪声系数测量了解程度不一样,积累的经验也不一样,所以刘迪的演讲第一部分介绍和概述了重要的噪声系数测量基本理论。第二部分介绍了目前行业内测试噪声系数的主要两个方法,冷噪声源技术和Y因子法。


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     研讨会的前三位主讲嘉宾主要分享了与噪声测试有关的方法和技术,接下来后面的演讲主要由MAURY和易捷测试针对测试系统进行了分享。

     MAURY 是世界一流的微波技术公司,他们在噪声测试领域有最新的成果,在研讨会最后阶段,MAURY详细分享了他们的合作案例,并介绍下MT2000最新成果。由MAURY的代表朱丹分加介绍了“MAURY公司,XT系列阻抗调谐器,MT2000混合有源负载牵引系统”。

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负载牵引系统2.png(MT2000负载牵引)


      在片集成通常是指与探针台做系统集成,集成难度高,对系统的插损、校准速度、可重复性等要求高;为了更准确的了解器件在芯片状态下的性能,尤其是在建模仿真阶段,在片集成是唯一的选择。

      易捷测试致力于打造半导体测试系统,希望通过我们的每一个系统都能帮助和服务到中国的每一个客户。会议的最后,易捷测试的张总为大家做了总结性的演讲《噪声在片集成系统设计与测试》。


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     本次演讲,张总介绍了易捷测试有了自已的知识产权,和一定的软件开发,系统集成的能力,并且,易捷测试能为客户的很多应用场景提供了一些特定的定制化服务。易捷在定制化服务上拥有全面的测试资源,其中包括是德科技的测量技术,MAURY的微波测量技术,MODELITHICS软件建模,还有各种应用夹具资源等。接下来,张总介绍了易捷今年推出的一套“辐照测试”专利在片系统集成, 以及易捷测试与浙大合作的实验室和噪声测试系统集成项目。应该说这些都是易捷测试与客户和供应商一起合作,实实在在的共同努力取得的成果。
     相信,易捷测试通过举办更多类似主题的研讨会能帮助到企业的工程师、设计开发人员、高校的老师和同学们了解到国内外先进的技术手段,积累更多解决问题的经验。最后感谢大家的参与,欢迎合作共赢。


最后中奖活动,嘉宾与中奖者合影留念



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MAURY 余庭与中奖者合影留念


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MODELITHICS刘江与中奖者合影留念



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KEYSIGHT 由立斌与一等奖中奖者合影留念



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