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易捷测试参展RFIT 2019研讨会现场
信息来源:2019-09-04

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2019 IEEE 南京研讨会8月28-30日如期举办

       2019 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology 南京,由 IEEE和东南大学共同发起,MICM和MTT-S共同协办与30名成员一起,RFIT2019 TPC共同合作,组织了一场射频技术主题整合学术大会。


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会议现场

       2019年RFIT提交了83篇论文,其中55篇论文来自大陆中国和18篇论文来自海外,分布在9个国家和地区。30名TPC成员审查了论文的天线社区的技术优点和兴趣。最后,总计共收到67篇论文,其中包括24篇邀请论文,在2019年RFIT上发表。从8月29日到8月30日的会议安排了8次口头会议和3次海报会议,并展示了论文。


1567565932264144.jpg论文获奖和颁奖仪式

       易捷测试注重全球化整合,本地化服务,公司专业从事半导体晶圆级测试和微波射频器件测量系统集成,长期经销或代理高端半导体测试设备,擅长系统整合,拥有灵活实用的解决方案。特别在高功率和射频微波测量领域易捷测试在业界有更突出表现,是国内比较有实力的半导体晶圆级测试系统解决方案服务商之一。本届研讨会,易捷测试有幸被邀请参加,并在会场内设有自己的展区。

在本届会议,易捷测试重点介绍了:

1)高端的先进探针台“150mm 太赫兹/毫米波探针台,200mm半自动探针台,300mm硅光子探针台“;

2)微波射频领域“有源负载牵引”测量系统及“微波校准件”“转接器TUNER”“电缆组件和适配器”;

3)封装工艺检测系统之焊接强度测试仪和X射线检测系统,以及超声波扫描显微镜系列产品(检测IGBT)


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易捷测试展区布置


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易捷测试展区现场






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