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GEM量测分析系统解决方案

 
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系统层级封装电磁近场量测分析解决方案


GME量测分析系统为业界唯一整合高频接触探头讯号馈入平台及非接触式电磁辐射扫描测试系统,提供系统级封装(System in Package,Sip)在信号完整性(Signal Integrity, SI)、电源系统整合(Power Integrity,PI)及电磁辐射干扰检测(Electromagnetic Interference, EMI)上完整的量测解决方案。

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