中文  /  English
产品中心
探针台
探针 Probing
微波射频测量设备
Maury微波校准件|适配器
软件|微波仿真模型库和建模服务
测试耗材
定制探针台及夹具
集成测试软件
材料测试设备
失效分析设备(EFA)
ESD|TLP|CDM测试设备
封装工艺检测设备
仪器仪表
芯片微组装设备
ESD|TLP|CDM测试设备

wafter ESD 测试机系列

 
  • 产品介绍
  • 功能参数
  • 在线询盘


Wafer ESD 测试机 产品系列

此设备是可以在Wafer level上进行HBM,MM测试的设备

产品名/型号设备说明设备介绍视频

HED-W5100D
HED-W5100D

全自动 Wafer ESD测试机

从LED到系统LSI的大口径Wafer,可适用于HBM和MM的放电

ESD印加后,可根据漏电流测试判断pass/fail

并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试

对ESD测试中发生问题的器件,能有效取得保护电路中的工作参数

是满足日本、国际标准的高可靠性设备。(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格)


click

HED-W5000M
HED-W5000M

高性能半自动Wafer level ESD测试机

通过操作探针座,可以轻松地决定两个管脚之间的位置

在印加脉冲后,可以通过漏电流测试判断pass/fail。



HED-W5000M-SP0
HED-W5000M-SP0

Low Cost Wafer ESD Tester

低成本、高性能

可通过开放控制软件构建广泛应用程序



HED-W5000M-WFC
HED-W5000M-WFC

Wafer level ESD测试机

在对集成电路中保护电路工作参数的收集与分析上,虽然TLP测试机起到了很大的作用,但是在半导体制程细微化的发展中, 为了提高对ESD的抵抗性,保护电路需要更快的研发速度

HED-W5000M-WFC测试机,因其可以观测到被印加到器件上的实际的ESD波形,所以有助于收集、分析保护电路参数以及缩短研发速度



产品名称:
您的姓名:
您的电话:
询盘内容:
Copyright © 深圳市易捷测试技术有限公司 备案号:粤ICP备15112613号   技术支持:山东云科网络