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HANWA-TLP测试机系列简介

 
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TLP 测试机 产品系列

此设备是对保护电路的工作特性进行模拟测试的设备

对集成电路里保护电路的工作参数的收集与分析有很大帮助

也可进行VF-TLP测试



TLP 测试机 产品系列

此设备是对保护电路的工作特性进行模拟测试的设备

对集成电路里保护电路的工作参数的收集与分析有很大帮助

也可进行VF-TLP测试

产品名/型号设备说明设备介绍视频

HED-T5000/T5000VF
HED-T5000/
HED-T5000VF

此设备配备了最先进的测试模式

具备印加脉冲宽度为100ns/200ns的normal TLP测试与宽度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)测试模式

有助于验证HBM/CDM模式的测试

对于器件管脚的入射波和器件管脚发出的反射波,都可在示波器上确认到

此数据会自动保存,并在专用的显示软件上表示

专用显示软件可对入射波/反射波的合计值,snapback特性以及漏电流测试的电流值进行图形描绘

被保存的示波器上的数据可以进行高自由度的演算处理

比如,对于不同工艺的晶体管的ON电压及可以加在保护电路上的最大电流值等,可以通过曲线的重叠描绘来确认其差异

并且可以与半自动探针台连接,实现TLP测试的自动化

由于可以在Wafer level上进行印加管脚间或芯片间的自动移位,所以能够很大地提升测试效率



HED-T5000-HC
HED-T5000-HC

目前,对于半导体器件的高集成度・高频・高耐压的需求逐年增加

对于在以往的TLP测试机无法完成的高电压・大电流的特性测试,在本设备上得以实现、并有助于高耐压元件工作参数的取得及分析




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