易捷测试第24届中国国际光博会易圆满结束

9 月6 日，第24 届中国国际光电博览会（简称：CIOE 中国光博会）在深圳拉开帷幕，本届展会首次开启了深圳国际会展中心的12 个展馆，展示面积突破24 万平方米，创历史新高。汇聚了来自全球超3000 家的优质参展商，首日进场观众共计55954 人，其中海外观众1953 人，观众数量同比2021 年增长32%；进场人次达77890 人次。展会覆盖信息通信、光学、激光、红外、紫外、传感、创新、新型显示等光电全产业，集中展示从材料、器件、设备、技术到成套方案，为光电产业及下游应用提供新技术、新模式，启迪新思路。

易捷测试与台湾光焱科技在第6馆，主要带来硅光测试系统解决方案和CMOS/CIS， SPAD测试解决方案。

硅光技术是满足不断发展的大数据、人工智能、未来移动通信等产业对高速通信需求的核心技术选择之一，它将光通信的传输速率、集成度向更高水平推进。同时，随着硅光技术的不断发展，硅光器件的性能和可靠性也亟待进一步提高。但目前全球硅光领域国外大厂占主导地位，高速芯片领域存在巨大的国产化空间。所以，中国硅光产业要完成国产替代仍需解决国内在硅光特殊工艺制造环节上暂时落后所带来的硅光芯片在量产、封装以及良率、成本、工艺标准化等层面的限制因素。易捷测试的硅光测试系统解决方案已是相对成熟的技术，已被多家科技研发机构和企业使用。

此外，本届光博会我们与台湾光焱合作的重点是针对智能传感器领域的用户，为他们带来可满足欧洲EMVA 1288参数检测国际标准的解决方案。主要有：

• 激光雷达传感器件用到的核心之一 SPAD（单光子雪崩二极体的晶圆级商用整合型精准测量）方案

• CIS（CMOS Image Sensor) 图像传感器、雪崩光电二极管（APD）、光电二极管（PD），光电效率转换精准测量解决方案。