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易捷测试参加RADECS 2018第二届电子器件辐射效应国
信息来源:2018-08-28

5月16日~18日,RADECS 2018 第二届电子器件辐射效应国际会议在北京举行,

RADECS会议主要介绍和讨论电子和光子材料,器件,电路,传感器和系统的辐射效应领域的最新进展(最近在辐射效应,辐射强化,硬度保证和相关硬件/软件产品方面的成就)。会议的范围包括为空间,航空或地面应用生产耐辐射系统的技术工艺和设计技术。 这次会议对于易捷测试很重要,深圳市易捷测试拥有完整的“X射线辐照探针台系统”解决方案,该方案已应用在通信、航天航空级的半导体晶圆测试领域。

RADESC 首次授权中国举办研讨会,易捷测试参会代表全程有幸与多位国际知名抗辐照专家就器件、电路和电子系统的辐射效应、加固技术和评估方法展开了交流。会议期间,易捷测试的“X射线辐照探针台系统”解决方案简介作为参会资料丰富了会议内容。

· 为什么在晶圆器件性能测试中要进行辐照效应测试?

在太空中,电子设备会受到辐射和重粒子的冲击而发生各种辐射效应,造成其工作的异常或故障,从国内外对航天事故的统计数据可以发现,40%的故障源于空间辐射。因此, 在使用器件时必须对其进行专门的抗辐照工艺处理,以确保其工作的可靠性。

· 有可行的评估器件抗辐射水平的解决办法吗?

采用X射线作为辐射源开展辐照总剂量效应试验,不仅易于实施,节省资金,在器件封装前即可对器件的抗辐射水平给出评估,是一种可行的评估器件总剂量水平的手段。X 射线辐射源系统可以用于(1)MOS结构器件的基本辐射响应分析(2)用过实验结果跟踪给定工艺的加固情况(3)迅速提高批量生产的芯片的加固情况反馈。

目前,总剂量辐照测试方面,主要应用60Coγ射线(钴源)进行测试,在广泛的研发和设计中心,Co辐射源属于危险品,很难申请和保管及运营。

相对60Co γ射线辐射源,X射线等效钴源,可以通过对比测试,快速的确定设计的好坏,易于管理和维护。X射线辐射源系统体积小,占地面积小,适合于实验室与工厂的生产线上使用,而且操作简单,调节方便,通过面板进行参数设置与操作,可精确控制辐射剂量率,且可调辐射剂量率范围较大,安全性好,仪器周边的辐射量与普通环境无差别, 更容易校准。


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