全功能可靠性测试系统
STAR全功能测试系统满足行业的可靠性测试需求，包括热载子注入(HCI)、偏压温度不稳定性(BTI)、OTF、时间相依介电质崩溃(TDDB)、电子迁移(EM )、应力诱导漏电流（SILC）等等。
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系统组成：
 | Gemini 全功能可靠性测试系统 是HCI、BTI、TDDB、SILC、电子迁移和应力迁移等全功能可靠性测试系统。
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 | Pluto All-in-one Per-Pin SMU 可靠性测试系统是一款高端全功能测试系统，适用在封装级与晶圆级测试，且涵盖HCI，BTI，OTF，TDDB 和 EM 等所有可靠性要求。 产品功能： 是次世代的可靠性测试系统，可提高工程和生产需求的测量精度和效率。 特点和规格：
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