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     毫米波多功能MMIC自动测试系统解决方案

随着芯片高度集成化的要求,近几年多功能MMIC得到广泛应用,同时伴随着频率越来越高、器件射频端口数越来越多,对于on-wafer级别毫米波多功能MMIC测试的可靠性及测试效率面临不小挑战。

易捷测试推出对于毫米波多功能MMIC的 on-wafer 器件测试,传统通常需要使用网络分析仪、扩频模块、测试电缆、探针台、高精度定制电动探针座、探针、控制及校准软件等,才能精确的测量毫米波集成电路的 S 参数,全面的表征和验证元件的特性。深圳市易捷测试技术有限公司的毫米波多功能MMIC自动测试系统解决方案基于 Keysight PNA-X 、扩频模块、半自动探针台、高频探针、自主开发的高精度电动探针座及配套控制软件,可以覆盖毫米波多通道芯片的测量。

 


特征与优势

易捷测试集成基于 Keysight PNA-X 、扩频模块、半自动探针台、高频探针、自主开发的高精度电动探针座及配套控制软件的一套毫米波多功能MMIC自动测试系统解决方案:


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        测试系统包括:

       Keysight PNA-X 、扩频模块、半自动探针台、高频探针、自主开发的高精度电动探针座及配套控制软件,

       具有以下优势:

  • 基于Keysight PNAX 、扩频模块,进一步提高测试精度高;

  • 多功能MMIC射频端口数较多,通过高精度电动探针座即可实现单个DIE上多端口的自动扎针;然后利用半自动探针台实现全片测试的移动。

  • 使用高频的探针可支持毫米波芯片的测量,独有的功率校准软件能校准到探针,提高更好的系统稳定性;

 



应用领域


毫米波MMIC可靠性测试
全面表征,验证元件特性
集成电路S参数测试
毫米波MMIC在片器件测试



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