中文  /  English
解决方案
晶圆硅光测试
光电探测分析测试
光电测试
光电测试系统


光电测试系统解决方案


伴随400G、100G通信的到来,通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件从特征性能都需要极大提高。从芯片到封装好的器件特征必须通过相应的参数来衡量相应的O/E和E/O参数。如3dB带宽、S参数、光波长响应度,接收灵敏度等。该系统就是集成矢网、光调制器、光校准件、探针台,可对O/E,E/O芯片、封装好的器件特征参数进行测试。


 易捷测试推出整个这套系统可测试的参数有3dB带宽(S21);S22、S11、插入损耗、传输带宽、以及所有电的S参数。

可以测的E/O器件或芯片有:M-Z调制器、 EAM调制器、TOSA

可以测的O/E器件有:APD、PIN、ROSA

可以测的O/O器件有:无源光器件、光滤波器、光传输系统。

(针对一些特殊样品的测试,如粉末,液体,纤维等材料我公司也有现成的解决方案。)

特征与优势

易捷测试推出的材料电磁参数测试系统特点和优势:

  • 测试范围覆盖广

  • 测试精度高

  • 自主研制的自动化测试软件,操作简便快捷

  • 技术支持快速及时,自主研发设计

  • 针对客户的特殊需求能提供定制化的产品

应用领域
光电通信器件测试
光器件的校准与测量


了解更多
Copyright © 深圳市易捷测试技术有限公司 版权所有  技术支持:山东云科网络