中文  /  English
产品中心
探针台
探针 Probing
微波射频测量设备
Maury微波校准件|适配器
软件|微波仿真模型库和建模服务
测试耗材
定制探针台及夹具
集成测试软件
材料测试设备
失效分析设备(EFA)
ESD|TLP|CDM测试设备
封装工艺检测设备
仪器仪表
芯片微组装设备
ESD|TLP|CDM测试设备

HED-N5000 ESD测试系统

 
  • 产品介绍
  • 功能参数
  • 在线询盘


ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。


HED-N5000    


全自动ESD测试系统

l 可以测试多达1056 pin的器件

l 占用空间小

l 适用于ESD测试和latch-up测试,符合最新的测试标准,

l   板上最多8个插座。

l  符合国际标准(JEDEC,ESDA)与Hanwa S5000和Verifire插座板兼容

产品名称:
您的姓名:
您的电话:
询盘内容:
Copyright © 深圳市易捷测试技术有限公司 备案号:粤ICP备15112613号   技术支持:山东云科网络