中文  /  English
产品中心
探针台
探针 Probing
微波射频测量设备
Maury微波校准件|适配器
软件|微波仿真模型库和建模服务
测试耗材
定制探针台及夹具
集成测试软件
材料测试设备
失效分析设备(EFA)
ESD|TLP|CDM测试设备
封装工艺检测设备
仪器仪表
芯片微组装设备
ESD|TLP|CDM测试设备

HANWA HED-C5000R CDM测试设备

 
  • 产品介绍
  • 功能参数
  • 在线询盘




ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。


HED-C5000R


图片1.png



 Hanwa CDM测试机

l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ,AEC,EIAJ),

l 可快速转换不同标准的测试

l   台式尺寸,紧凑,准确可靠的CDM测试仪。

l   配备的CCD摄像机

l   提供FI-CDM和D-CDM模式。

l   可以测量每个引脚的电容。

尺寸:W575 x D400 x H300 Weight 35Kg  Compact Desktop Size


CDM 测试机

此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备

产品名/型号设备说明设备介绍视频

HED-C5000R
HED-C5000R

此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备

(满足JEITA / ESDA / JEDEC规格)可通过交换放电电路组件支持日本国内及国际的测试规格

可测量器件的各个端子的容量,测试数据可保存为文本文件形式




click


符合所有主要国际标准:



Standard

Standard Number

Method

Calibration tool


1

ESDA/JEDEC

Joint Standard


ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014


FI-CDM


Small/Large coin(disk)


2


JEDEC


JESD22-C101F


FI-CDM


Small/Large coin(disk)


3


ESDA


ANSI/ESD S5.3.1-2009


FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)


4


AEC


AEC Q100-011 Rev-C1


FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)


5


JEITA


JEITA ED-4701/302 (Method 305C)


D-CDM

Small/Large coin(disk)

+

FR-4 board


image.png

产品名称:
您的姓名:
您的电话:
询盘内容:
Copyright © 深圳市易捷测试技术有限公司 备案号:粤ICP备15112613号   技术支持:山东云科网络