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HANWA HED-T5000 传输线脉冲 (TLP)测试系统

 
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ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。


HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC


TLP 测试机 

l 用于获取器件保护电路的相关参数特性

l 为器件升级提供支持,缩短产品周期

l 提供普通和VF(非常快)型号。VF模型提供正常(100nm / 200nm)和VF(1nm-)脉冲宽度。

l   具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率。

l   可与HED-W5000,ESD(HBM,MM)测试仪结合使用现在提供大电流输出型号(T5000-HC)。



TLP 测试机 产品系列

此设备是对保护电路的工作特性进行模拟测试的设备

对集成电路里保护电路的工作参数的收集与分析有很大帮助

也可进行VF-TLP测试

产品名/型号设备说明设备介绍视频

HED-T5000/T5000VF
HED-T5000/
HED-T5000VF

此设备配备了最先进的测试模式

具备印加脉冲宽度为100ns/200ns的normal TLP测试与宽度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)测试模式

有助于验证HBM/CDM模式的测试

对于器件管脚的入射波和器件管脚发出的反射波,都可在示波器上确认到

此数据会自动保存,并在专用的显示软件上表示

专用显示软件可对入射波/反射波的合计值,snapback特性以及漏电流测试的电流值进行图形描绘

被保存的示波器上的数据可以进行高自由度的演算处理

比如,对于不同工艺的晶体管的ON电压及可以加在保护电路上的最大电流值等,可以通过曲线的重叠描绘来确认其差异

并且可以与半自动探针台连接,实现TLP测试的自动化

由于可以在Wafer level上进行印加管脚间或芯片间的自动移位,所以能够很大地提升测试效率



HED-T5000-HC
HED-T5000-HC

目前,对于半导体器件的高集成度・高频・高耐压的需求逐年增加

对于在以往的TLP测试机无法完成的高电压・大电流的特性测试,在本设备上得以实现、并有助于高耐压元件工作参数的取得及分析





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