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技术特点

探针台测试软件

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半导体晶圆级自动
在片测试系统软件

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半导体测试系统集成

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半导体测试系统
一站式集成解决方案

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RF/毫米波/太赫兹

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微波射频器件测量
系统集成解决方案

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产品中心

芯片在片和封装测试一站式系统集成服务

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探针台系列

晶圆级测试探针台系统
手动/半自动/全自动/大功率/射频/高低温探针台
充分满足功率半导体、射频前端芯片、晶圆直流、硅光等测试需求

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微波射频测试设备

提供从最小的适配器到最大的测试系统
校准、测量和建模解决方案实现无缝集成

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芯片ESD测试设备

半导体静电测试（ESD)可视化设备
Wafer ESD 试验/TLP测试/CDM测试/静电破坏检测装置
满足全自动晶圆级或封装IC的 ESD测试需求

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封装测试设备

半导体封装测试设备
国内供应自主可控

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失效分析设备

高端失效分析系统
EMMI微光光学显微镜/扫描电镜/X'R检测系统/芯片推拉力测试仪

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解决方案

高性价比系统集成方案

晶圆在片测试

晶圆在片测试系统

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光电器件测试系统

光电器件测试
系统集成

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微波射频测量

有源负载牵引
世界一流微波测试系统

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材料测试

波导，谐振腔

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封装/微组装

三五族超薄小芯片
高精度
高速度

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关于我们

专业团队，先进理念

半导体晶圆在片测试，器件封测一条龙系统整合和数据共享

高端设备

供应世界一流品牌高精度设备

系统集成

广泛应用于半导体晶圆领域

技术服务

拥有12年的系统整合专业技术

定制服务

提供客户所需定制服务

合作伙伴

多年相伴 并肩前行

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    2023-07-29
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