探针台测试软件
半导体晶圆级自动 在片测试系统软件
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半导体测试系统集成
半导体测试系统 一站式集成解决方案
RF/毫米波/太赫兹
微波射频器件测量 系统集成解决方案
晶圆级测试探针台系统 手动/半自动/全自动/大功率/射频/高低温探针台 充分满足功率半导体、射频前端芯片、晶圆直流、硅光等测试需求
提供从最小的适配器到最大的测试系统 校准、测量和建模解决方案实现无缝集成
半导体静电测试(ESD)可视化设备 Wafer ESD 试验/TLP测试/CDM测试/静电破坏检测装置 满足全自动晶圆级或封装IC的 ESD测试需求
半导体封装测试设备 国内供应自主可控
高端失效分析系统 EMMI微光光学显微镜/扫描电镜/X'R检测系统/芯片推拉力测试仪
晶圆在片测试系统
光电器件测试 系统集成
有源负载牵引 世界一流微波测试系统
波导,谐振腔
三五族超薄小芯片 高精度 高速度
高端设备
供应世界一流品牌高精度设备
系统集成
广泛应用于半导体晶圆领域
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